就
是
對
待
工
作
的
態(tài)
度
，
個產品，
做到極致認真
致
每一組數(shù)據(jù)
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智能型HMDS真空系統(tǒng)（JS-HMDS90-AI）
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潔凈烘箱，百級無塵烘箱
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氮氣烘箱，精密充氮烘箱
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LCP熱處理烘箱，LCP纖維氮氣烘箱
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熱風循環(huán)真空烘箱，高溫熱風真空烤箱
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HMDS預處理系統(tǒng)(JS-HMDS90 )
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智能型無塵無氧烘箱（PI烤箱）
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真空無氧固化爐，高溫無氧烘箱
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精密烤膠臺，高精度烘膠機
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超低溫試驗箱，零下-120度高低溫箱
產 品 中 心
products
高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機簡介：
高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的質量,從精密的IC到重機械的組件，作為其產品改進的依據(jù)或參考。以便考核試品的適應性或對試品的行為作出改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機技術性能：
機型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+25℃、試驗箱內無試樣條件下 |
測試方法 | GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備 |
高溫室 | |
預溫度范圍 | RT～+200℃ |
升溫時間 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能 |
低溫室 | |
預冷溫度范圍 | RT~-70℃ |
降溫時間 | RT → -70℃≤60min 注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能 |
試驗室（試樣區(qū)） | |
試驗方式 | 氣動風門切換 3 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-常溫-低溫） 2 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-低溫） |
溫度沖擊范圍 | -55℃～ +80℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃ |
溫度恢復時間 | ≤5min |
恢復條件 | 試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風側 高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘 環(huán)境溫度曝露：常溫 低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘 試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請?zhí)崆案嬷?/span> |
制冷方式 | 水冷 |
高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機滿足標準：
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
